SPECTRO X-LAB 2000: Der Maßstab in der nachweisstarken energiedispersiven Röntgenfluoreszenzanalyse (EDRFA)

Kleve, 2. Juli, 2003.

Gerätedesign
Das SPECTRO X-LAB 2000 im Modelljahr 2003 arbeitet mit einer 400 W Pd Endfensterröhre. Die anregende Strahlung wird durch verschiedene Polarisations- und Sekundärtargets optimiert und der spektrale Untergrund um bis zu eine Größenordnung reduziert. Als Detektionssystem wird wegen der hervorragenden Eigenschaften zum Nachweis sowohl hoher als auch niedriger Energien ein state-of-the-art Si(Li) Halbleiterdetektor eingesetzt. Damit ist es möglich, sowohl Spuren als auch Hauptkomponenten in einer Vielzahl unterschiedlicher Matrices präzise zu analysieren. Durch den optimierten Geräteaufbau als auch durch die integrierten Auswerteroutinen hat sich das SPECTRO X-LAB 2000 als Maßstab für die energiedispersive Analyse etabliert.

Endfensterröhre
Durch den Einsatz einer Pd- Endfensterröhre ist es möglich, auch die niederenergetische Strahlung des Emissionsspektrums optimal zur Anregung der Elemente Na- Cl zu verwenden.

Polarisation
Polarisierte Anregungsstrahlung reduziert den Anteil im Spektrum, der durch gestreute Strahlung an der Probe entsteht. Im Vergleich zu konventionellen RFA Analysensystemen wird dadurch der spektrale Untergrund reduziert und damit die erreichbare Nachweisgrenze verbessert.

Detektor
Der Si(Li) Halbleiterdetektor bietet gute Absorptionseigenschaften sowohl für nieder- als auch hochenergetische Fluoreszenzstrahlung aus der Probe. Die Auflösung von besser als 155 eV für die Mn Ka Linie ist dabei eines der Charakteristika für dieses System. Die im ab dem Modelljahr 2003 eingesetzten Detektionssysteme verfügen zusätzlich über ein um einen Faktor 2-5 verbessertes Signal zu Shelf und Signal zu Tail Verhältnis. Dies macht sich insbesondere bei der Bestimmung von Spurenelementen neben Hauptkomponenten bemerkbar.

Anwendungen
Das universell einsetzbare Analysensystem SPECTRO X-LAB 2000 findet insbesondere dann Verwendung, wenn ohne großen Probenvorbereitungsaufwand ein große Anzahl von Elementen im Bereich von Na-U simultan analysiert werden soll. Die einzigartigen Auswerteprozeduren der Software erlauben dabei eine Bestimmung der Elementgehalte ohne vorherige zusätzliche Information bzgl. der Matrix der Probe. Dabei werden für eine Vielzahl von Elementen Nachweisgrenzen von weniger als 1 mg/kg erreicht.

Als typische Einsatzbereiche stellen sich damit die Analyse von umweltrelevanten Proben wie Luftfiltern, Böden und Schlämmen sowie der Einsatz im Recyclingbereich dar. Auch finden die Geräte in Labors Verwendung, die sich mit der Untersuchung von geologischen Materialien oder pharmazeutischen Produkten beschäftigen.

Zusammenfassung
Die Verwendung polarisierter Anregungsstrahlung in Verbindung mit einer Pd Endfensterröhre bietet die optimalen Voraussetzungen für eine Analyse der Elemente von Na- U in einer weiten Bandbreite von Matrices. Der eingesetzte Si(Li) Halbleiterdetektor mit verbesserten Charakteristika trägt dazu bei, dass das SPECTRO X-LAB 2000 als Maßstab in der energiedispersiven RFA angesehen wird.

SPECTRO, weltweit führend auf dem Gebiet der Optischen Emissions- und Röntgen-fluoreszenz-Spektrometrie, ist ein multinationales Unternehmen, in dem Innovation, Gerätebetreuung und Kundendienst im Mittelpunkt stehen. Seit der Gründung 1979 wurden bis heute weltweit mehr als 19.000 Analysengeräte an Kunden geliefert.

SPECTROs Ziel ist es, zukunftsweisende Geräte zu produzieren, für verschieden-artigste Aufgabestellungen die besten Lösungen zu entwickeln und eine beispielhafte Kundenbetreuung sicherzustellen.